光學薄膜透反射率測量方法

廣泛地用于光學、化學、機械等科學研究領(lǐng)域以及光學器材制造、建筑玻璃、薄膜、眼鏡片、隱形眼鏡片、單層多層玻璃構(gòu)件光學性能的測定。鍍膜行業(yè)、寶石業(yè)、化學工業(yè)、冶金工業(yè)等企業(yè)事業(yè)單位進行快速檢測和精確分析，真空鍍膜AF/AR/IR/AS做透過率反射率的測試，和對農(nóng)產(chǎn)品、食品、醫(yī)藥等領(lǐng)域的營養(yǎng)成份、水份及化學物理性質(zhì)的快速無損分析測定。

波長范圍：190-1100nm
光譜帶寬：0.5/1/2/4 狹縫自動可變
方形測試φ2反射樣品
波長準確度：±0.3nm
波長重復性：0.2nm
光度準確度：±0.5%T
光度重復性：0.2%T
雜散光：0.1%T（220/340nm處）
穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)
顯示方式：液晶顯示器（接PC win端操作）
分辨率0.1nm
吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T
檢測器： 進口硅光二極管
光源： 進口品牌鎢燈
鍵盤： 觸摸式按鍵
數(shù)據(jù)輸出： RS-232標準接口 /USB接口
打印輸出： 并口
電源： 85-230V
儀器尺寸： 470*380*200mm
機重量： 14kg